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內容來自YAHOO新聞

愛德萬推全新浮動電源供應單元

工商時報【新竹訊】半導體測試設備領導者愛德萬測試推出全新PVI8浮動電源供應單元,強化旗下市場領導測試平台V93000對嵌入式電源元件進行高電壓大電流測試的能力。這套強化方案可為V93000在單一系統上供應足夠的電源與充足的類比及數位通道,使該平台足以提高嵌入式電源IC元件並行聽英語 兒童補習班同測數,為一極具成本效益的測試解決方案。愛德萬測試SoC事業資深副總裁Hans-Juergen Wagner表示:「現今系統單晶片高度整合了數位、類比、高速與高功率等多種功能,這套全新測試解決方案正是針對此發展潮流所開發。藉由提供內建嵌入式電源功能與其他複雜電源元件的微控制器足以進行大量並行測試,愛德萬測試率先業界為因應這些元件快速發展之需所提供的通道密度,將為全球半導體業者帶來極高效益。」PVI8提供8個浮動通道,具四象限運作功能,每個通道最高可輸出80伏特10安培的電力,8個通道也可集結提供最高±80安培的電流,可以最嚴謹的方式對待測物進行高電源的強壓測試,此外,PVI8採浮動設計,對於高電壓需求的元件,也可提供±160伏特的電壓輸出。PVI8的量測範圍並不會受到供電範圍的限制,因此操作人員可以自由選取量測範圍,待測物也不會因此發生電壓或電流突波、電源切斷、電路閂鎖效應或元件受損等問題。PVI8採透過測試圖碼控制的方式運作,可大幅加速在電源測試所需時間,而且能夠藉由維持恆定測試圖碼速率及短電源脈衝的運作,達到極穩定量測結果,以避免待測物過熱。每個電源電壓電流通道都有各自的測試處理器與高達56MB的記憶體,足以滿足16位元任意波形產生器 (AWG)及全圖碼控制數位器的操作需求,搭配高容量的記憶體使得採圖碼控制的測試單元在執行測試過程中,不必重新載入所需的電壓電流波形,即可在一次圖碼序列中反覆執行多種測試項目。

新聞來源https://tw.news.yahoo.com/愛德萬推全新浮動電源供應單元-220140431--finance.html
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